| 申请专利号 |
200510084077.2 |
专利申请日 |
2005.07.12 |
| 名称 |
颗粒分离器 |
公开（公告）号 |
CN1721089 |
| 公开（公告）日 |
2006.01.18 |
颁证日 |
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| 优先权 |
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申请（专利权） |
株式会社佐竹 |
| 地址 |
日本东京都 |
发明（设计）人 |
伊藤隆文;高山笃 |
| 国际申请 |
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国际公布 |
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| 专利代理机构 |
北京银龙知识产权代理有限公司 |
代理人 |
张敬强 |
| 摘要 |
| 一种颗粒分离器，靠消除带有高透明度的平滑树脂颗粒内部的漫反射可以精确地分离并移除有缺陷的颗粒而不会产生将无缺陷颗粒当作有缺陷颗粒的错误判断。颗粒分离器的第一背景和第二背景在抛物线轨迹的附近并且其形状沿着抛物线轨迹向着其下游方向形成凸面或凹面。 |
| 主权项 |
| 1.一种颗粒分离器，包括： 供应单元，用于供应颗粒； 传送单元，用于将从所述供应部分以恒定流量和恒定速度放出的颗粒向着实际上水平的方向进行传送； 多个光学探测单元，布置在所述传送部分放出的颗粒所形成的抛物线轨迹的相对侧面的位置，用于探测有缺陷的颗粒，所述多个光学探测器包括 第一探测单元，具有用于照射颗粒前面的第一照明装置，用于观察颗粒前面的第一探测器以及布置在抛物线轨迹的与所述第一照明装置和所述第一探测器所在侧相反一侧的第一背景，以及具有用于照射颗粒后面的第二照明装置的第二探测单元，用于观察颗粒后面的第二探测器以及布置在抛物线轨迹的与第二照明装置和第二探测器所在侧相反一侧的第二背景， 所述第一背景和第二背景布置在抛物线轨迹的附近并且沿着抛物线轨迹形成凸面或凹面的弯曲；以及 移除单元，用于根据所述多个光学探测单元对有缺陷颗粒的探测结果，将有缺陷的颗粒从抛物线轨迹中移除。 |
