| 申请（专利）号 |
名称 |
发明人 |
地址 |
| 改进的波长检测器 |
200510060053.3 |
株式会社米姿托约 |
日本神奈川 |
| 星载红外线列扫描成像系统暗背景的抑制方法及其装置 |
200510026023.0 |
中国科学院上海技术物理研究所 |
200083上海市玉田路500号 |
| 金刚石传感器 |
200510081955.5 |
株式会社神户制钢所 |
日本兵库县神户市 |
| 利用异质结材料制作的快响应宽频段激光探测器 |
200410069052.0 |
中国科学院物理研究所 |
100080北京市海淀区中关村南三街8号 |
| 利用氧化物异质结材料制作的快响应宽频段激光探测器 |
200410069100.6 |
中国科学院物理研究所 |
100080北京市海淀区中关村南三街8号 |
| 红外测温仪的测温方法 |
200410019999.0 |
曹柏林 |
300191天津市南开区王顶堤林苑西里11号楼1门201 |
| 用于近似彩色匹配函数的变换结构 |
200380105833.4 |
皇家飞利浦电子股份有限公司 |
荷兰艾恩德霍芬 |
| 利用氧化物多层膜材料制作的快响应宽频段激光探测器 |
200410071174.3 |
中国科学院物理研究所 |
100080北京市海淀区中关村南三街8号 |
| 微机械碳纳米管场发射型非致冷热成像器件及制作方法 |
200510026744.1 |
中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
200050上海市长宁区长宁路865号 |
| 辐射热检测器、红外检测装置及制造该检测器的过程 |
200410103859.1 |
ULIS股份公司 |
法国沃雷沃鲁瓦兹 |
| 光学分析系统 |
200380106841.0 |
皇家飞利浦电子股份有限公司 |
荷兰艾恩德霍芬 |
| 光学分析系统 |
200380107083.4 |
皇家飞利浦电子股份有限公司 |
荷兰艾恩德霍芬 |
| 保持通过冶金炉的鼓风口无炉渣的方法 |
200380106769.1 |
密执安特殊矿物公司 |
美国密执安州 |
| 全口径光强测量仪 |
200510086253.6 |
中国科学院光电技术研究所 |
610209四川省成都市双流350信箱 |
| 光检测装置 |
200380107779.7 |
浜松光子学株式会社 |
日本国静冈县 |
| 光量检测电路 |
200510084322.X |
三洋电机株式会社 |
日本国大阪府 |
| 温度校正处理装置 |
200510083554.3 |
三洋电机株式会社 |
日本国大阪府 |
| 一种用于空间的双漫反射器 |
200510016505.8 |
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
130031吉林省长春市东南湖大路16号 |
| 用于测量紫外线(UV)的光强度的装置和方法 |
200380106346.X |
艾克塞利斯技术公司 |
美国马萨诸塞州 |
| 应用于高空气球试验的跟踪太阳的装置 |
200510016764.0 |
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
130031吉林省长春市东南湖大路16号 |
| 光谱选择性增强的荧光源 |
200510029380.2 |
中国科学院上海光学精密机械研究所 |
201800上海市800-211邮政信箱 |
| 光谱测量系统和方法 |
200410051216.7 |
鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号 |
| 一种两维空间同时实现光谱分辨的方法和装置 |
200410056200.5 |
深圳大学 |
518060广东省深圳市南山区南油路2336号 |
| 没有滤光器的示差色彩传感器 |
200510090336.2 |
安捷伦科技有限公司 |
美国加利福尼亚州 |
| 颜色区分方法以及根据该方法的颜色栏结构和颜色表 |
200380108797.7 |
见本合成树脂株式会社 |
日本三重县 |
| 平面外双折射测量 |
200380108882.3 |
海因兹仪器公司 |
美国俄勒冈州 |
| 改进的无源红外运动传感器 |
200380108910.1 |
西荣科技有限公司 |
香港沙田 |
| 探测电磁辐射部件，含其的红外光学成像单元及实现过程 |
200510097720.5 |
ULIS股份公司 |
法国沃雷沃鲁瓦兹 |
| 基于图像处理的激光光束参数测量方法 |
200510103291.8 |
左 昉;张建勇 |
100083北京市海淀区北京科技大学信息工程学院测控系 |
| 拾取激光的截面图像的方法 |
200510096528.4 |
株式会社液晶先端技术开发中心 |
日本神奈川县 |
| 激光能量计 |
200510105535.6 |
中国计量科学研究院;中国人民解放军军事医学科学院放射与辐射医学研究所 |
100013北京市北三环东路18号 |
| 火焰传感器及火焰检测装置 |
200510099853.6 |
株式会社山武 |
日本东京 |
| 延时受控无条纹光谱相位干涉脉冲测量方法及其测量装置 |
200510037587.4 |
中山大学 |
510275广东省广州市新港西路135号 |
| 用作活性表面增强拉曼光谱术(SERS)基质的涂覆有金属的纳米晶硅 |
200380109578.0 |
英特尔公司 |
美国加利福尼亚州 |
| 单元热释电红外探测器件及其制备方法 |
200510021654.3 |
电子科技大学 |
610054四川省成都市建设北路二段四号 |
| 消除极化相关性的光谱测量装置及其方法 |
200410074770.7 |
财团法人工业技术研究院 |
台湾省新竹县 |
| 包括悬空固定的吸收膜的热电磁辐射探测器 |
200510103860.9 |
原子能委员会;ULIS公司 |
法国巴黎 |
| 适用于信号的延迟敏感测试的方法和器件 |
200510109728.9 |
PMD技术有限公司 |
德国锡根 |
| 用于确定速热设备中的半导体晶片的温度的方法 |
200380109927.9 |
马特森热力产品有限责任公司 |
德国多恩施塔德 |
| 噪声消除电路及具备其的温度测量处理装置 |
200510099253.X |
三洋电机株式会社 |
日本国大阪府 |
| 检测紫外光在多个波段的强度的检测器及其方法 |
200410082681.7 |
凯鼎科技股份有限公司 |
台湾省新竹县 |
| 分光装置 |
200480005497.0 |
浜松光子学株式会社 |
日本国静冈县 |
| 红外线传感器 |
200510117316.X |
浜松光子学株式会社 |
日本静冈县 |
| 一种光谱解析校正的积分式光辐射度测量系统和方法 |
200510050854.1 |
潘建根 |
310053浙江省杭州市滨江高新区南新路9号 |
| APD单光子探测器雪崩信号的提取方法 |
200510123856.9 |
中国科学院物理研究所 |
100080北京市海淀区中关村南三街8号 |
| 紫外线测量方法以及紫外线测量装置 |
200410084110.7 |
富士施乐株式会社 |
日本东京 |
| 光检测电路、其控制方法、电光面板、装置及电子设备 |
200510102535.0 |
精工爱普生株式会社 |
日本东京都 |
| 光学读出红外传感器 |
200510094285.0 |
中国科学技术大学 |
230026安徽省合肥市金寨路96号 |
| 高集成度纯数控单光子探测器 |
200510123855.4 |
中国科学院物理研究所 |
100080北京市海淀区中关村南三街8号 |
| 车辆偏离车道的预警系统 |
200410072339.9 |
黄启瑞 |
中国台湾 |
| 检测来自多方向的光的光传感器、携带通信装置及显示方法 |
200480008133.8 |
株式会社半导体能源研究所 |
日本神奈川 |
| 激光光束质量M2因子实时检测仪 |
200510030096.7 |
中国科学院上海光学精密机械研究所 |
201800上海市800-211邮政信箱 |
| 空间调制干涉型计算层析成像光谱仪 |
200510130308.9 |
北京理工大学 |
100081北京市海淀区中关村南大街5号 |
| 使用衍射元件的光学色彩传感器 |
200510093571.5 |
安捷伦科技有限公司 |
美国加利福尼亚州 |
| 基于聚合物绝热层的室温红外探测器 |
200510115264.2 |
清华大学 |
100084北京市100084-82信箱 |
| 用于增强的纳米-光谱扫描的方法和装置 |
200480008944.8 |
VP控股有限公司 |
美国加利福尼亚州 |
| 在颜色管理上的工艺改进 |
200480009063.8 |
克莱里安特财务(BVI)有限公司 |
英国英属维尔京群岛 |
| 光学模块的光学特性校准方法及其装置 |
200410090095.7 |
胜华科技股份有限公司 |
台湾省台中县 |
| 分光光度计 |
200480009454.X |
美国瓦里安澳大利亚有限公司 |
澳大利亚维多利亚 |
| 双通型光谱测量装置及其极化相关性的消除方法 |
200410091029.1 |
财团法人工业技术研究院 |
中国台湾 |
| 一种红外线温度感测装置 |
200410090891.0 |
新典自动化股份有限公司 |
台湾省新竹县 |
| 利用反射式达曼光栅的超短脉冲测量装置 |
200510110632.4 |
中国科学院上海光学精密机械研究所 |
201800上海市800-211邮政信箱 |
| 数字绘制的配方色空间及其产生和使用方法 |
200480010841.5 |
普立万公司 |
美国俄亥俄州 |
| 信号处理系统和方法 |
200480010499.9 |
焦耳显微系统加拿大公司 |
加拿大不列颠哥伦比亚省 |
| 移动通信终端的紫外线指数检测装置 |
200510080669.7 |
乐金电子(中国)研究开发中心有限公司 |
100102北京市朝阳区望京利泽中园二区203号洛娃大厦B座 |
| 火焰检测方法及火焰检测装置 |
200480011743.3 |
株式会社山武 |
日本东京 |
| 制备匹配涂料组合物的方法和用于该方法的装置 |
200480011905.3 |
纳幕尔杜邦公司 |
美国特拉华州 |
| 光敏传感器及其光照检测电路 |
200410089221.7 |
上海华虹NEC电子有限公司 |
201206上海市浦东川桥路1188号 |
| 激光能量功率显示仪 |
200510108007.6 |
中国人民解放军军事医学科学院放射与辐射医学研究所;中国计量科学研究院 |
100850北京市海淀区太平路27号 |
| 用于超高温气体射流径向动态电子温度表征的电子探针 |
200410098440.1 |
中国科学院力学研究所 |
100080北京市海淀区北四环西路15号 |
| 一种用于医用仪器的光源能量检测及显示系统 |
200410093163.5 |
上海雷硕医疗器械有限公司 |
200050上海市延安西路456号5F |
| 全向光检测器 |
200510130593.4 |
索尼公司 |
日本东京 |
| 亮度检测仪及其检测方法 |
200410103307.0 |
亚洲光学股份有限公司 |
台湾省台中县潭子乡台中加工出口区南二路22-3号 |
| 红外静止型高光通量傅立叶变换成像光谱仪 |
200510110243.1 |
中国科学院上海技术物理研究所 |
200083上海市虹口区玉田路500号 |
| 红外线轴温探测设备多用定标仪 |
200510130855.7 |
张 颖 |
110002辽宁省沈阳市和平区珲春北路6号楼432号 |
| 确定高压放电灯的灯泡温度的方法和设备 |
200510131762.6 |
电灯专利信托有限公司 |
德国慕尼黑 |
| 波长检测装置及其方法 |
200410103310.2 |
亚洲光学股份有限公司 |
台湾省台中县潭子乡台中加工出口区南二路22-3号 |
| 一种消除Shack-Hartmann波前传感器模型误差的方法 |
200510130792.5 |
中国科学院光电技术研究所 |
610209四川省成都市双流350信箱 |
| 基于微棱镜阵列的PSD型哈特曼-夏克波前传感器 |
200410098975.9 |
中国科学院光电技术研究所 |
610209四川省成都市双流350信箱 |
| 激光光束质量测量装置 |
200610023419.4 |
中国科学院上海光学精密机械研究所 |
201800上海市800－211邮政信箱 |
